色散型高光譜成像技術(shù)

光譜分析單元為色散元件，一般采用光柵或棱鏡作為色散單元，入射的輻射光經(jīng)過(guò)準(zhǔn)直光學(xué)系統(tǒng)準(zhǔn)直后，經(jīng)棱鏡和光柵狹縫色散后將復(fù)色光色散成按波長(zhǎng)大小依次排列的單色光譜線。通過(guò)平場(chǎng)光學(xué)設(shè)計(jì)使光譜平直地分布在平面圖像傳感器上，在獲得光譜分辨的同時(shí)獲得空間分辨力。色散型成像光譜儀器基本結(jié)構(gòu)示意圖見(jiàn)圖2.1。

光柵根據(jù)其分光方式的不同分為透射式和反射式，如圖2.2所示。

圖2.3是透射式光柵線掃描成像光譜儀的結(jié)構(gòu)圖，光經(jīng)過(guò)目標(biāo)物體后進(jìn)入物鏡，經(jīng)過(guò)透射式光柵和一系列棱鏡到達(dá)探測(cè)器。

圖2.4是反射式光柵的示意圖，反射式光柵線掃描成像光譜儀的結(jié)構(gòu)和透射式不同地方就是在入射狹縫之前的這一部分，入射狹縫和光柵在同一側(cè)。美國(guó)Headwall公司制造的Hyperspec VNIR高光譜成像光譜儀就是基于同軸全反射，f/2光學(xué)設(shè)計(jì)的，成像波段范圍為600~1600nm。

色散型系統(tǒng)一般采用掃描方式工作，又分為擺掃描(Whiskbroom)方式和推掃描(Pushbroom)方式，通過(guò)掃描得到高光譜成像立方體。

擺掃描方式即采用線陣列探測(cè)器使用空間擺掃方式成像，這種方式是最早投入實(shí)用的成像光譜技術(shù)。目前波段最全，實(shí)用性較強(qiáng)的成像光譜儀仍使用這種方式。美國(guó)JPL實(shí)驗(yàn)室的AVIRIS系統(tǒng)和美國(guó)GER公司的GERIS系統(tǒng)等都屬于此類成像光譜儀(Horler et al.1983)。擺掃型成像光譜儀通過(guò)光機(jī)左右擺掃和飛行平臺(tái)向前運(yùn)動(dòng)方式完成二維空間成像，其線列探測(cè)器獲取每個(gè)瞬時(shí)視場(chǎng)像元的光譜維。擺掃型成像光譜儀的內(nèi)部電機(jī)驅(qū)動(dòng)與被測(cè)物體平面成45°角的掃描鏡(Rotating Scan Mirror)進(jìn)行360°旋轉(zhuǎn)，其旋轉(zhuǎn)水平軸與被測(cè)物平面前進(jìn)方向平行(Cross-track Scanning)。掃描鏡的掃描運(yùn)動(dòng)方向與遙感平臺(tái)運(yùn)動(dòng)方向垂直，對(duì)物體左右平行掃描成像。如圖2.5,這樣成像光譜儀所獲取的圖像就同時(shí)具有光譜分辨率與空間分辨率。擺掃型成像光譜儀有視場(chǎng)(FOV)大、像元配準(zhǔn)好、光譜波段范圍寬、探測(cè)元件定標(biāo)方便、數(shù)據(jù)穩(wěn)定性好等優(yōu)點(diǎn)。但擺掃型成像的缺點(diǎn)是像元凝視時(shí)間短，提高光譜和空間分辨率以及信噪比相對(duì)困難(張兵，2002)。

推掃描方式成像光譜儀采用面陣探測(cè)器成像，探測(cè)器垂直于運(yùn)動(dòng)方向掃描，它的空間掃描方向就是平臺(tái)運(yùn)動(dòng)方向(Along-track Scanning)。同時(shí)光譜儀通過(guò)光柵和棱鏡分光，完成光譜維掃描，見(jiàn)圖2.6,線掃描型成像光譜儀的優(yōu)點(diǎn)首先是像元的凝視時(shí)間大大增長(zhǎng)，有利于提高系統(tǒng)的空間分辨率和光譜分辨率；其次沒(méi)有光機(jī)掃描機(jī)構(gòu)，儀器機(jī)械構(gòu)造簡(jiǎn)單。推掃描型成像光譜儀的缺點(diǎn)主要是：增大FOV比較困難，一般在30°左右；面陣CCD的器件標(biāo)定困難，面陣相機(jī)拍攝速率較慢實(shí)時(shí)性較低。